当前位置:
首页
>
医学版
>
期刊论文
>
其它各类
>
中国医学论坛报
>
第31卷(2005年)
>
第31期(总第972期 2005-08-18)
> 正文
编号:
10710728
空腹血糖受损下限诊断切点降低
http://www.100md.com
2005年8月18日
糖调节受损(IGR)是任何一种糖尿病发病过程中的中间阶段,其中又分空腹血糖受损(IFG)和糖耐量受损(IGT)。为提高IFG对发生2型糖尿病的预测能力,中华医学会糖尿病学分会近日提出了有关IFG下限诊断切点的建议 ......