当前位置:
编号:10710728
空腹血糖受损下限诊断切点降低
http://www.100md.com 2005年8月18日 《中国医学论坛报》 2005年第31期
     糖调节受损(IGR)是任何一种糖尿病发病过程中的中间阶段,其中又分空腹血糖受损(IFG)和糖耐量受损(IGT)。为提高IFG对发生2型糖尿病的预测能力,中华医学会糖尿病学分会近日提出了有关IFG下限诊断切点的建议。(中华医学杂志 2005,83∶1947)

    建议提出:1. 降低IFG的下限诊断切点,即从6.1 mmol/L降至5.6 mmol/L。

    2. IFG上限的诊断切点不变,仍为<7.0 mmol/L。由此,IGR可分为空腹血糖(FPG)≥5.6 mmol/L但葡萄糖耐量试验(OTGG)2小时血糖(2 hPG)<7.8 mmol/L的单纯IFG;FPG<5.6 mmol/L,但OGTT 2 hPG在7.8~11.0 mmol/L之间的单纯IGT及二者兼有等三种状态。

    3. 在下调IFG诊断切点后,所有FPG≥5.6 mmol/L的个体均应接受OGTT,以将人群中的IFG+IGT划分出来。此点至关重要。

    由于该建议中要求所有FPG≥5.6 mmol/L的个体均应接受OGTT检测,因此可以显著提高糖尿病或糖尿病前期的检出效率,以减少漏诊。当受检个体FGP≥5.6 mmol/L且OGTT 2 hPG≥7.8 mmol/L时,就应进行血压、血脂及肥胖等心血管病危险因素的监测和干预治疗。FGP≥5.6 mmol/L但OGTT 2 hPG<7.8 mmol/L者,也应积极提倡生活方式干预,以预防和延缓糖尿病的发生。, http://www.100md.com