血清ＮＳＥ与儿童脑损伤关系的临床研究
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[摘要]目的 探讨血清神经元特异性烯醇酶(NSE)浓度在高热惊厥(FC)和新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)患儿中的变化及其临床意义。 方法 通过放射免疫分析法测定32例FC、10例HIE患儿血清NSE浓度，选择15例体检正常儿童作为对照组。 结果 FC、HIE患儿和正常儿童的血清NSE浓度分别为(21.08±26.72)、(30.41±9.55)和(8.35±4.84)μg·L-1 ，FC和HIE组血清NSE均明显高于正常组(P<0.05和P<0.01)。FC患儿中脑电图(EEG)异常组和正常组的NSE浓度分别为(26.76±27.83)和(10.67±11.34)μg·L-1 ，差异有显著意义(P<0.05)。惊厥时间<5min和≥5min患儿血清NSE浓度分别为(16.07±15.98)μg·L-1 和(24.98±25.32)μg·L-1 ，差异无显著意义(P>0.05)。 结论 血清NSE水平可作为判断HIE和FC患儿脑损伤程度的参考指标。
[关键词] 神经元特异性烯醇酶;高热惊厥;新生儿缺氧缺血性脑病;儿童;脑损伤
神经元特异性烯醇酶(NSE)是主要存在于大脑神经元和神经内分泌细胞并参与糖酵解的特异性酶，当神经元损伤或坏死后，NSE从细胞内溢入脑脊液和血液，其血液水平变化与脑损伤呈正相关[1～3] 。实验性动物脑损伤或缺血性损害研究结果也表明，脑脊液及血清NSE的浓度与脑损伤程度相关，NSE被认定是脑损伤后的一种敏感性标记物。高热惊厥(FC)和新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是儿科最常见的急危重症，而惊厥和新生儿窒息又是小儿脑损伤的重要原因。我们采用放射免疫分析法测定FC和HIE患儿血清NSE的浓度，观察其与脑损伤的关系。
1 对象与方法
1.1 研究对象
42例研究对象均为2003年1月～2004年6月我院儿科住院患儿，其中男25例，女17例;最小年龄为出生1h，最大年龄为9岁。其中FC32例，HIE10例。FC组中6个月～1岁3例，～3岁19例，～6岁7例，>6岁3例;惊厥发生1次28例，≥2次4例;惊厥持续时间<5min19例，≥5min13例(其中5～10min11例，惊厥20min以上3例);脑电图(EEG)检查结果正常9例，异常21例，其中表现为高幅尖波13例，高幅慢波8例。HIE病例中，出生时Apgar评分0～3分6例，4～7分4例。选择15例体检正常儿童作为对照组，其中男8例，女7例;<1个月6例(Apgar评分8～10分)，1个月～10岁9例，均无惊厥及中枢神经系统疾患。
1.2 检测方法
1.2.1 血液标本的收集与贮存
FC者于惊厥发作的24h内、HIE者于出生后24h内采静脉血3～4ml，标本置于无热源及内毒素的试管中，避免溶血，静置5～10min后，离心10min(3000r·min-1 )，分离血清，-70℃冰箱保存待测。
1.2.2 NSE的检测
采用放射免疫分析法，试剂盒购自北京北方生物科技公司，操作按试剂盒说明书进行。
1.3 统计学处理
数据以ˉx±s表示，采用SPSS10.0软件进行独立变量t检验。
2 结 果
32例FC患儿急性期NSE浓度为(21.08±26.72)μg·L-1 ，HIE患儿NSE浓度为(30.41±9.55)μg·L-1 ，正常儿童NSE浓度为(8.35±4.84)μg·L-1 ，FC、HIE组患儿血清NSE浓度与正常儿童相比明显升高(t=2.64和t=7.64，P<0.05和P<0.01，表1);在FC组EEG异常与EEG正常患儿之间，NSE浓度也存在显著差异(t=2.54，P<0.05，表2);而惊厥<5min与≥5min两组患儿血清NSE浓度无显著差异(t=0.83，P>0.05，表3)。 表1 FC组、HIE组与对照组之间NSE比较(略)表2 FC组患儿EEG正常与异常组之间NSE浓度比较(略)表3 惊厥<5min与惊厥≥5min之间NSE浓度比较(略)
3 讨 论
NSE分布于全身各个系统，绝大部分分布于中枢神经系统中，是神经元胞浆中的一种可溶性蛋白，在脑内占脑全部可溶性蛋白的1.5%～3.0%[2] 。NSE是烯醇酶的一种同功酶，γγ亚基组成的同功酶属神经元和神经内分泌细胞所特有。此酶在正常人脑组织中浓度最高，正常人体液中浓度甚微。脑损伤时神经细胞崩解，血脑脊液屏障破坏，该酶进入脑脊液和血液中，使其浓度升高，故其改变可反映中枢神经系统受损程度[4] 。NSE释放量与神经元死亡的量呈正相关[5] 。临床研究提示，NSE是一个容易检测、有高度特异性并且稳定性强的脑损伤标志物[6] 。我们的研究结果表明，在FC和新生儿窒息后24h内NSE均升高，惊厥和新生儿窒息导致缺氧可引起脑损伤，新生儿窒息时血脑屏障也遭到破坏，故可导致血清NSE浓度升高。我们发现HIE组血清NSE浓度明显高于对照组，说明新生儿窒息后已经引起脑损伤。Rabinowicz等[7] 观察了3例癫痫手术患者在皮层EEG检测下注射甲黑西塔耳(Methohexital，一种很强的痫样放电激活物) 前后脑脊液NSE的水平，发现脑脊液中NSE很快升高达基础值3～4倍，提示痫性放电可引起一过性脑损伤。有文献[8] 报道惊厥持续≥15min与<15min者之间血清NSE值有显著差异。我们对惊厥持续时间<5min与持续时间≥5min组血NSE浓度进行比较，发现两者之间无显著性差异，提示无论惊厥持续时间长或短，对脑细胞均有损伤。
[参考文献]
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[作者简介] 徐英(1961-)，女，四川乐山人，副主任医师。
(上海交通大学附属第六人民医院儿科，上海 200233)
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