儿童热性惊厥脑电图与临床的关系(2)
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发病与年龄有严格的依赖关系，本组1周内和1周后EEG异常均为3岁以下多见，多数学者认为这种年龄依赖性与婴幼儿大脑在解剖生理和生化各方面不成熟、小儿脑细胞结构简单、脑功能分化及树突、轴突分化不全、髓鞘生成不完善有关。神经兴奋-抑制性递质功能不稳定，使惊厥阈值低，发热容易促使惊厥的发生[5]。而且6个月～3岁也是极易发生呼吸道、消化道感染的年龄段，较常出现高热。本研究发现，1周后EEG异常的患儿中反复发作者比首次发作者的百分率高，说明反复发作者脑功能异常的持续时间长，发生脑损伤的可能性大。
分析高热组与低热组的异常检出率，1周内检出的异常率两者无显著性差异，而低温组1周后异常的患儿较多，婴幼儿大脑皮层对皮层下抑制较弱，各种神经功能处于快速发育又极不稳定状态，惊厥阈值低，如患儿在低热时发生惊厥，说明该患儿中枢神经系统稳定性极差，也可能大脑存在不同程度的潜在病灶[6]，日后应继续追踪，临床注意控制发热的体温，避免反复高热惊厥造成对脑功能的损害。
热性惊厥临床包括复杂性热惊厥及单纯性热惊厥。复杂型FC需具备以下主要条件之一：①一次发作>15 min或24 h内发作2次以上；②发作时常呈偏(半)侧或局灶性发作；③1年发作频率达5次或5次以上；④热退2周后EEG仍显异常。次要条件：患儿年龄6岁；体温
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