SPECT仪平面性能质量控制探讨
关键词:
探头均匀性反映了有效视野(UFOV)内各部位对均匀分布的放射源响应的差异,是γ相机最基本和最重要的性能参数。多数与系统完整性有关的伪影能首先在泛源均匀性图像中表现出来,且空间非线性对空间分辨率的影响也会以非均匀性的方式存在于泛源图像中[1] 。IAEA[2] 要求对SPECT仪进行日常测试的性能指标多达8项。但分析广东地区SPECT仪日常质控状况[3] ,各单位对这些指标的测试频率并不相同。本研究参考NEMA标准[4] ,测试和分析了SPECT仪的平面固有均匀性、线性及能量分辨率,以探讨简化SPECT仪日常平面质量控制操作的可能性。
仪器和方法
1 . 仪器。Sopha DSX SPECT仪,NEMA线性模型,UFOV屏蔽环,使用自制99 Tcm 点源和支架。
2 . 方法 ......
您现在查看是摘要页,全文长 8136 字符。