微分吸附计时电位法测定表面活性剂的临界胶束浓度

    赵敬中3

    王 彤3 3

    姚型军 孙德志 (聊城师范学院化学系 ,聊城 252059)

    2001205212收稿;2001212221接受

    3 3青岛大学师范学院化学系

    1 引 言

    临界胶束浓度(简称 CMC)是表面活性剂的重要特性参量。测定 CMC的电化学方法有多种 ,但利用微分吸附计时电

    位法测定 CMC尚未见报道。由于该方法以悬汞电极代替表面易污染的固体电极而使重现性良好 ,同时该方法记录的是

    d tP d E～ E曲线 ,因此无需除氧 ,从而简化了分析手续 ,提高了分析速度 ,优于伏安法。我们取代表阴离子表面活性剂类

    的十二烷基磺酸钠(AS)进行实验 ,测定结果与业已公认的方法一致。

    2 实验部分

    211 仪器与试剂 MP 21型溶出分析仪(山东电讯七厂) ,7921型伏安分析仪(济南无线电四厂) ,三电极体系由 SH24 型悬

    汞电极(山东大学) 、饱和甘汞电极和铂电极组成。用60 %乙醇配制中性红浓度为 5 ×10

    2 4

    molP L ,用 40℃水配制 AS浓度

    为5. 0× 10

    - 2

    molP L 贮备液 ,保存于40℃恒温器中备用。用贮备液配制含有 4 ×10

    - 6

    molP L 中性红的一系列不同浓度 AS

    溶液各50 mL ,置于40℃恒温器中存放24 h再进行测定。实验用试剂均为分析纯 ,水为重蒸馏水。

    212 实验方法 将上述含有4× 10

    - 6

    molP L 中性红的一系列不同浓度AS溶液分别转入恒温 40℃的电解池中 ,将悬汞电

    极置于0100 V( vs. SCE) ,在搅拌下富集120 s后静止 30 s ,以适当恒电流 i0 还原溶出 ,在 - 0. 30 V～ - 1. 00 V范围记录

    d tP d E2E曲线 ,读取溶出峰高 ......