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编号:10238760
电压依赖型钾通道的失活及其分子机制
http://www.100md.com 《中国心脏起搏与心电生理杂志》 1999年第4期
     作者:蒋学俊 李晓艳 李庚山

    单位:蒋学俊(Penn State College of Medicine,The Pennsylvania State University,USA);李晓艳 李庚山(湖北医科大学附属第一医院 武汉 430060)

    关键词:

    中国心脏起博与心电生理杂志990417 心肌细胞中存在多种钾通道,主要作用于动作电位的平台期。通道的激活和复活对心肌细胞的复极有较大影响。钾通道分为电压依赖性、受体依赖性、ATP依赖性、Ca2+依赖性等类型,其中电压依赖性钾通道占重要地位。随着分子生物学技术的发展,已克隆出多种钾通道基因,从而有可能从基因结构上了解钾通道的功能,以及基因结构与通道动力学、通道调节之间的关系,更进一步了解心律失常的发生及药物的作用机制。本文着重从分子结构上阐述通道的失活及其调节机制。
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    1 电压依赖性钾通道的基本结构

    离子通道实际上是一类跨膜糖蛋白,是由多个亚基构成的复和体。构成孔道的部分为亚基,α亚基主要起调节作用。其中每个α亚基由四个跨膜区组成,每个跨膜区则由六个跨膜肽段及其间的连接肽段组成。其主要结构特点为:①每个亚基有S1-S6六个跨膜肽段,S4为电压感受器(voltage sensor),S4-S5连接区与钾通道的电导大小及通道的失活有关,S5-S6间的连接肽段组成通道口,即P区(pore region),S6段高度保守。②通道蛋白在细胞外侧有三个N-糖基化位点。③通道蛋白在胞浆侧含有两个cATP磷酸化位点。④通道蛋白的氨基端和羧基端均位于胞浆侧。

    已知电压依赖性钾通道的失活包括两种机制,N型失活(N-type inactivation)和C型失活(C-type inactivation)。两者的基因结构和动力学特性均不相同,但互有影响。近年来,通过基因的克隆和各种突变方法,对其基因结构与通道失活的特性有了深入了解。影响通道失活的区域主要有6个部位:①S5-S6间的P区。是离子出入通道的部位[1~4]。②S4电压感受器。与通道的电压特性有关,此区内的点突变可改变通道的电压依赖性[5]。③S6肽段的膜外侧部位。与C型失活的调节有关[1]。④S6肽段的胞浆侧。也对C型失活有影响[6]。⑤氨基酸N端与孔道内侧区结合的部位。此区域可影响C型失活[7,8]。⑥S6肽段跨膜部分。具体作用尚不清楚,在某些通道中可能对失活有影响[9,10]。电压依赖性钾通道的结构模式见图1。
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    图1 电压依赖性钾通道的结构模式图 Extracellular=细胞外,Membrane=膜,Cytoplasm=细胞浆

    2 N型失活的机制及特点

    N型失活的机制比较清楚[1,11],它是一种快速失活,时间常数在数毫秒至数十毫秒。形成N型失活的结构基础是α亚基N端的大约20个氨基酸,它与孔道区内侧的结合导致了通道的失活,因此形象地称之为球-链模式(ball and chain model)。静息态时,通道处于关闭状态,“球”(即N端)游离于胞浆中;随着膜电位的变化,通道进入开放态,钾离子可从孔道口出入;随后,链上带正电的氨基酸残基将“球”导入孔道的内侧面,从而阻止离子的通透,通道即失活;然后,链上的疏水氨基酸残基发生位移,“球”从孔道内侧释放出来,通道复活回到静息态。其具体过程见图2。尽管不同通道N端氨基酸的序列有较大差异,但其动力学特性是相似的。
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    图2 N型失活机制 Closed=关闭态,Open=开放态,Inactived=失活态;activation=激活,Inactivation=失活,recovery=恢复

    N型失活的主要特点有:①去掉N端的氨基酸(即去掉“球”的部分)后,N型失活消失,用inside-out方法,从膜内侧给予合成的N端肽段,N型失活可恢复[11]。有学者曾推测,减少“链”的长度可加快失活,但结果并非如此,提示“球”的移动不仅受“链”的控制,可能还受到某些区域二级结构或三级结构的影响[12,13]。②N型失活仅受细胞内药物作用的影响。研究显示N型失活受细胞内TEA+(tetaethylammonium)的抑制,而细胞外TEA+对其无影响[14,15]。③对钾离子浓度变化的反应是钾通道的基本特性之一,N型失活也仅受细胞内钾离子的影响[2,5]。④N型失活在膜电位高于阈电位时,呈非电压依赖性。虽然N端含有精氨酸、赖氨酸等带正电荷的氨基酸,但N端的结合仅靠近细胞内侧面,并不经过整个跨膜区域,因而对电压变化不敏感[16]。⑤孔道外侧及S6胸外侧部分的突变不影响N型失活[1,2,5],这也是N型失活与C型失活的重要区别。
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    3 C型失活的机制及特点

    C型失活是电压依赖型钾通道的共同特性之一,主要的调控区域是S5及S6的部位。对C型失活的机制及其调节仍然不是十分清楚,大多认识来源于对Shaker B通道的研究。近年来由于分子生物学技术的发展,才对其有了更深入的认识。

    S5及S6跨膜肽段及其连接肽段的构型变化是引起C型失活的主要原因。至少有两种学说解释C型失活的机制。一种学说认为[17],C型失活是孔道区膜外侧局部的构型变化所致。通道开放时,孔道外侧区附近的巯基及其他基团发生位移,孔道口胞外侧的构型发生变化,引起C型失活。细胞外钾离子及药物对C型失活的影响均支持这一学说。另一种学说认为,电压超过阈电位致除极时,除电压感受器变化外,S6及其他肽段空间结构也有变化,不仅孔道膜外侧空间构型发生改变,孔道胞浆侧构型也有改变,进而导致C型失活[3,5,6,8]。S6肽段胞浆侧的点突变也对C型失活有影响,则支持这一观点。
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    C型失活的特点:①N端氨基酸的缺失或突变并不影响C型失活。因此,常用N端缺失突变的通道作为研究C型失活的工具。②对细胞外钾离子浓度变化敏感。细胞外钾离子浓度升高,失活变慢,而复活变快[2]。③对P区周围及S6胞浆侧氨基酸的点突变敏感,但不影响通道的电压依赖性。④细胞外的TEA+可抑制通道的活性[14]。因此,C型失活并非是氨基酸C端的球 -链结合,而主要是孔道区胞外侧及S6胞浆侧的构型变化,β亚基对C型失活有明显的调节作用。

    借助Kv1.4通道更容易理解两种不同的失活机制。Kv1.4是编码Ito (transient outward potassium channel)的基因,野生型的Kv1.4同时具有N型失活和C型失活,表现为快速失活[12,19];在去掉N端的氨基酸后,N型失活消失,通道仅表现出C型失活,失活时间常数长达数秒,复活也明显变快。在此基础上,对S5-S6附近区域的定点突变可反映C型失活的调节,如第532位(相当于S5-S6之间的膜外侧部分)的赖氨酸变为酪氨酸后,失活进一步变慢,而复活加快;第561位(相当于S6胞浆侧部位)的缬氨酸变为丙氨酸后,失活则变快,而复活变慢[20];此外,在S5-S6区域还对一系列的位点进行了突变,如522位、552位、559位等,以观察这些位点对C型失活的影响,见图4。总的来说,N型失活仅受N端氨基酸的调节,而C型失活受孔道区周围多个位点的影响,所有这些位点的突变均不改变通道的电压依赖性。
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    图3 C型失活机制

    图4 Kv1.4野生型及其突变型电流 钳制电位-90 mV,除极至50mV。fKv1.4wt:示Kv1.4野生型,具N型失活及C型失活。fKv1.4 delta-N:示去掉N段后,通道仅表现出C型失活,该失活较N型失活明显变慢。fKv1.4 delta-N K532Y:示在去掉N端的同时,第532位的赖氨酸变为酪氨酸,失活进一步减慢。fKv1.4 delta-N V561A:示在去掉N端的同时,第561位的缬氨酸变为丙氨酸,失活加快

    不同钾通道C型失活有较大差异,大多钾通道如Kv1.1、Kv1.2、Kv1.4、Kv1.5等,其C型失活均具有相似的动力学特性,只是β亚基的调剂和药物作用不尽相同。但是编码IKr(rapidly activating component of cardiac delayed rectified K+ current)的herg基因(human ether-a-go-go-related gene,该基因被认为是引起长QT综合征的原因之一),其C型失活特性则不同,Herg失活较快。一般来说,C型失活快时复活则慢[1,2,5],而Herg则两者均快[9,21,22];一般情况下,复活随细胞外钾离子浓度的升高而变快,而herg则相反;一般来说,C型失活在电压超过阈电位后则呈非电压依赖性,而Herg则有电压依赖性。Herg失活的特殊性可能与其特殊的结构有关,Herg的失活需要跨膜元件的构型变化。
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    4 N型失活及C型失活的关系

    尽管N型失活和C型失活具有不同结构基础的机制,但有学者发现,N型失活的存在可影响C型失活。近年的研究提出了两种学说:渗透学说(permeation mechanism)和变构学说(allosteric mechanism)。

    4.1 渗透学说 Baukrowitz和Yellen[7]发现,在Shaker钾通道,N型失活可加快C型失活。在细胞外无钾离子时,N型失活对C型失活的促进作用与细胞内钾离子浓度相关,据此他们提出了渗透学说,认为N型失活对C型失活的影响与孔道口钾离子浓度有关。通道开放时,大量钾离子经孔道流至细胞外,孔道口周围局部钾离子浓度增高,钾离子与孔道口周围部位的结合接近饱和;N型失活时,“球”从通道内侧阻止了钾离子的外流,于是孔道外口钾离子浓度迅速降低,钾离子从通道外口解离下来,从而促进了C型失活。

    4.2 变构学说 变构学说则认为,N型失活时不仅α亚基中的S4电压感受器位移,S6和相邻肽段构型及其空间结构也发生变化,导致孔道口胞浆侧的空间构型变化,从而促进C型失活。Rasmusson等[5]的实验发现,Kv1.4通道中,将第454位(相当于S4电压感受器中的位点)的精氨酸突变为谷氨酰胺后,野生型Kv1.4表现出的N型失活和去掉N端氨基酸后表现出的C型失活,电压依赖性均发生相同程度的变化,失活和复活均发生类似的变化。推测N型失活时,“球”与通道内侧的结合后,使得通道“冻结”于激活态时的空间构型,这种构型可促进C型失活。根据此学说,只要N端没有从结合部位解离下来,这种作用就持续存在,直至复极。
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    两种学说可能共同存在于同一通道中。在不同的通道,不同的条件下,可能其中的某一种起主要作用。

    失活是电压依赖性钾通道的基本特性之一。对通道的失活机制,特别是C型失活的机制仍有很多待解决的问题。从基因结构上了解通道的动力学特性,研究亚基和药物对各种通道的调节,有助于了解心律失常的发生机制,从而为研究新的抗心律失常药物提供依据。

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    (1999-09-16收稿), http://www.100md.com