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编号:12065236
面孔加工特异性的事件相关电位研究(2)
http://www.100md.com 2005年4月1日 《心理与行为研究》 2005年第4期
面孔加工特异性的事件相关电位研究
面孔加工特异性的事件相关电位研究

     首先对N170的波幅进行刺激类型(4)×半球(2)×电极位置(4)的三因素重复测量的方差分析。结果表明,刺激类型效应显著,F(3,45)=23.274,p<0.05(面孔:M=17.25μV,SD=1.30μV;汽车:M=13.64μV,SD=0.88μV;鸟:M=11.33μV,SD=0.94μV;椅子:M=11.44μV,SD=0.86μV)。面孔引起的N170显著大于汽车、鸟和椅子引起的N170。汽车引起的N170显著大于鸟和椅子引起的N170。此外,还发现显著的电极位置效应,F(3,45)=12.922,p<0.05(PO7/8:M=15.65μV,SD=0.97μV;PO3/4:M=13.18μV,SD=1.01μV;P7/8:M=12.33μV,SD=0.67μV;P3/4:M=12.49μV,SD=1.02μV)。LSD分析表明,这种效应反映了在PO7、PO8位置的负成分具有比在其它位置更大的波幅。

    对N170的峰潜时进行三因素重复测量的方差分析,因素分别为刺激类型、半球和电极位置。分析结果表明,刺激类型效应不显著,F(3,45)=1.475,p>0.05,面孔、汽车、鸟和椅子这四类刺激引起的N170潜伏期没有显著差异 ......
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