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编号:11582612
脑神经元移行异常的CT诊断(附2例报告)
http://www.100md.com 2008年5月1日 张文肇
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    参见附件(751KB,2页)。

     [摘要] 目的:探讨CT检查对脑神经元移行异常的诊断价值。方法:使用GE MAX640型CT机进行头颅平扫,层厚间隔10 mm,病变区5 mm。结果:大部分脑神经元移行异常都可以通过CT平扫确诊。结论:CT平扫是脑神经元移行异常诊断的可靠方法,可提供定位、定性诊断。

    [关键词] 脑神经元移行异常;CT平扫

    [中图分类号]R445 [文献标识码]B [文章编号]1673-7210(2008)01(b)-093-02

    脑神经元移行异常是一种少见的先天性畸形,亦为顽固性癫痫的病因之一。为了进一步加强对本病CT表现的认识,笔者结合我院2例病例的临床资料及文献,就有关问题做一探讨。

    1资料与方法

    1.1临床资料

    1.1.1病例1 男性,2岁。临床表现为患儿11个月时候发现其左手持物不稳,左下肢行走力弱,表情呆板,反应迟钝,学说话较晚。体格检查:左侧肌力Ⅳ级,肌张力高。

    1.1.2病例2 女性,5岁。临床表现为患儿近2年走路不稳,易摔倒,智力尚可。体格检查:神志清,眼球各方运动自如,双侧鼻唇沟对称。双上肢腱反射(+++),双下肢腱反射(++),左侧夏道克征(+)。

    1.2方法

    用GE MAX640型CT机进行头颅平扫,层厚间隔10 mm,病变区5 mm,连续扫描。这2例患者因平扫CT表现典型均未进行增强扫描。

    2结果

    2.1病例1 CT扫描结果

    右侧中央沟宽大,并可见一内衬皮质的横行裂隙内连侧脑室,外达脑表面,两缘膨大。双额叶脑回宽大扁平,透明隔缺如。见图1~2。

    2.2病例2 CT扫描结果

    双额顶叶皮质增厚,白质变薄,大脑表面平坦。见图3 ......

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