本研究笔者选择儿科住院治疗的43例高热惊厥患儿为研究对象进行调查，结果发现，在本研究入选的43例患儿中，35例患儿预后良好，预后良好率为81.40%，而预后不良率为18.60%。这一结果与既往研究结果一致[10-13]。可见，高热惊厥患儿总体预后欠佳，高热惊厥反复发作、脑损伤或者癫痫发作的出现均影响患儿脑组织的正常发育，影响患儿预后，给患儿家庭和社会带来沉重的负担和压力，甚至影响家庭的稳定和社会的和谐。可见，找出高热惊厥小儿预后影响因素，采取针对性的治疗干预措施以改善患儿的预后具有重要的临床意义。

    本研究笔者采用多因素Logistic回归分析发现：初次发作年龄<1岁，高热惊厥持续时间≥15 min、高热惊厥次数≥2次和脑电图异常是高热惊厥患儿预后差的危险因素。究其原因可能与以下因素有关：①初次发作年龄小的患儿由于中枢神经系统发育正在发育中，小儿的皮层功能尚未发育成熟，抑制过程较差 ......